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赛默飞VQDUO-TANDEM Vanquish™ Duo UHPLC 系统
Vanquish Duo UHPLC 系统适用于(应用)提高串联 LC 或 LC-MS 工作流程的实验室通量以及投资回报。支持离线色谱柱再生,充分利用检测器或质谱仪尽可能提高产出使用智能
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ASI J200 TANDEM 复合系统
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J200飞秒激光剥蚀进样系统
J200LA-fs剥蚀均匀一致,剥蚀的样品颗粒能代表样品的化学特性,无需高度匹配的标准物质,也能进行高精度、定量LA-ICP-MS测量。
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HEL 气体分析仪 Tandem PRO
产品简介Tandem PRO 气体分析仪自动化平台用于细胞培养、制药生产、动植物组织培养、微生物发酵生产、生物制品制备、污水处理等实验、生产提供反应环境的生产实验设备。--为微生物和细胞培养实验提供
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HEL 气体分析仪 Tandem MULTI
产品简介Tandem MULTI 气体分析仪自动化平台用于细胞培养、制药生产、动植物组织培养、微生物发酵生产、生物制品制备、污水处理等实验、生产提供反应环境的生产实验设备。--为微生物和细胞培养实验
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J200飞秒激光剥蚀进样系统
J200飞秒激光剥蚀进样系统是ASI公司的技术团队拥有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景,系统通过非热过程,施加超高激光辐射剥蚀样品,产生的颗粒能在ICP源完全
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土壤重金属元素检测,哈希Rocksand 土壤重金属分析仪
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J200 Femto iX LA 激光烧蚀(LA)
J200 Femto iX LA源自于应用光谱公司旗舰级LA飞秒J100系统,数字化质量流量控制器(MFC)和电子控制阀,用于氩气、氦气及补充气体的输送。
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J200 Femto iX LA 激光烧蚀(LA)
Inc.的J200 LA仪器与ICP-MS连接以建立品质因数。分析了NIST玻璃SRM(玻璃中的痕量元素)以确定可以检测的质量并确定检测限(LOD)。
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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)
J200飞秒激光剥蚀进样系统将飞秒激光源技术可靠性提升到一个新高度,系统采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。
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